第一種方法是“試驗——改進(jìn)——再試驗”模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機理，找出問題就立即改進(jìn)，然后再試驗證實所解決的問題，使產(chǎn)品的可靠性得到增長。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段，通過系統(tǒng)試驗，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后，根據(jù)具體情況，立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長，這種方法比較適用于試驗中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴(yán)重問題的情況，針對性較強。
第二種方法是“試驗——問題記錄——再試驗”模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗發(fā)現(xiàn)問題時，不是立即進(jìn)行改進(jìn)，而是把問題記錄下來，待在一個試驗階段結(jié)束以及下一個階段開始之前，根據(jù)各種失效模式的失效機理，集中地進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗。采用這種試驗法，產(chǎn)品可靠性將有較大的躍進(jìn)。這種試驗法，比較適用于一批試驗機中，出現(xiàn)幾個問題，其中一種問題是占主要地位而其余問題是次要的情況。
第三種方法是“含延緩改進(jìn)的試驗——改進(jìn)——再試驗”模式。該方法是將方法一和方法二結(jié)合起來，通過試驗發(fā)現(xiàn)了產(chǎn)品的問題，有些改進(jìn)在試驗中了產(chǎn)品的問題，有些改進(jìn)在試驗中立即著手進(jìn)行，有些延緩到試驗結(jié)束后再作改進(jìn)。在試驗中，對能及時改進(jìn)的問題，立即采取措施改進(jìn)產(chǎn)品，提高可靠性，在試驗階段結(jié)束后，把延緩的問題至下次試驗開始前進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗，使產(chǎn)品的可靠性得到較大的增長。這種方法比較適合于試驗中出現(xiàn)幾種問題，并且一些問題能短期容易改進(jìn)的，另一些問題卻需要相當(dāng)一段時間才能改進(jìn)的綜合情況。
電子產(chǎn)品的可靠性十分重要，是產(chǎn)品質(zhì)量的主要指標(biāo)。我國的一些電子產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)比較先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)還有差距，因此必須對國內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行充分研究，真正從產(chǎn)品方案的論證、設(shè)計、生產(chǎn)、試驗和使用全過程中對可靠性水平作出準(zhǔn)確的評價，從而大大提高我國電子產(chǎn)品的可靠性水平，使產(chǎn)品質(zhì)量達(dá)到*水平。
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